Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 29: Latch-up test
STANDARD published on 1.12.2011
Designation standards: ČSN EN 60749-29-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 89811
Publication date standards: 1.12.2011
The number of pages: 36
Approximate weight : 108 g (0.24 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma zahrnuje I-zkoušku a přepěťovou zkoušku zavření pro integrované obvody. Tato zkouška je považována za destruktivní. Účelem této zkoušky je stanovit metodu, která určí zavření (Latch-up) integrovaných obvodů (IO) a definuje kriteria poruch zavření. Charakteristiky zavření jsou používány na stanovení spolehlivosti výrobku "zjištění bezporuchovosti" (NTF) a minimalizaci poruchy způsobené "elektrickým přepětím" (EOS) během zkoušky zavření. Tuto zkušební metodu je možno aplikovat pro CMOS součástky. Použitelnost pro ostatní technologie musí být stanovena. Klasifikace zkoušek zavření jako funkce teploty je definována v 3.1 a kriteria úrovně poruch jsou uvedena v 3.2