ČSN EN 62373 (358767)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)

STANDARD published on 1.3.2007

English (the title page in Czech only) -
Print design (15.00 USD)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 62373
Classification mark: 358767
Catalog number: 78056
Publication date standards: 1.3.2007
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 62373 (358767):

Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou. Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí. Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.