ČSN EN 62374-1 (358768)

Semiconductor devices - Part 1: Time-dependent dielectric breakdown (TDDB) test for inter-metal layers

STANDARD published on 1.7.2011

English (the title page in Czech only) -
Print design (14.90 USD)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 62374-1
Classification mark: 358768
Catalog number: 88688
Publication date standards: 1.7.2011
The number of pages: 28
Approximate weight : 84 g (0.19 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Annotation of standard text ČSN EN 62374-1 (358768):

Tato norma popisuje zkušební metodu, zkušební strukturu a metodu pro odhad životnosti pro zkoušku časově závislého dielektrického průrazu (TDDB) pro intermetalické vrstvy vytvořené pro polovodičové součástky