Semiconductor devices - Time Dependent Dielectric Breakdown (TDDB) test for gate dielectric films
STANDARD published on 1.5.2008
Designation standards: ČSN EN 62374
Classification mark: 358768
Catalog number: 80891
Publication date standards: 1.5.2008
The number of pages: 48
Approximate weight : 144 g (0.32 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Norma stanovuje metodu pro zkoušení časově závislého průrazu dielektrika hradel (TDDB) a odhad tržní životnosti hradel podle výsledků této zkoušky.