Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 30: Preconditioning of non-hermetic surface mount devices prior to reliability testing
STANDARD published on 1.3.2021
Designation standards: ČSN EN IEC 60749-30-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 511998
Publication date standards: 1.3.2021
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma popisuje normalizované postupy pro stanovení aklimatizace před zkouškou spolehlivosti pro nehermetické povrchově montované součástky (SMD).
Zkušební metoda popisuje postup aklimatizace pro nehermetické součástky v pevné fázi pro SMD, který reprezentuje typické operace vícenásobného pájení přetavením.
Součástky SMD jsou podrobeny přiměřené posloupnosti aklimatizace popsané v této normě, předtím než budou podrobeny specifickému zkoušení spolehlivosti v laboratoři výrobce (monitorování kvalifikační a/nebo spolehlivostní) z důvodu vyhodnocení dlouhodobé spolehlivosti (ovlivněné namáháním při pájení)