ČSN EN IEC 60749-41 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices

STANDARD published on 1.4.2021

English (the title page in Czech only) -
Print design (15.40 USD)

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN IEC 60749-41
Classification mark: 358799
Catalog number: 512197
Publication date standards: 1.4.2021
The number of pages: 36
Approximate weight : 108 g (0.24 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-41 (358799):

Tato norma stanovuje procedurální požadavky na provádění platných zkoušek výdrže, uchování a zkoušek na opačné teplotě založené na kvalifikační specifikaci. Kvalifikační specifikace výdrže a uchování (pro počet cyklů, trvání, teploty a velikosti vzorku) jsou specifikovány v JESD47, nebo jsou vyvíjeny pomocí metod vycházejících ze znalostí JESD94