Semiconductor devices - Generic semiconductor qualification guidelines - Part 1: Guidelines for IC reliability qualification
STANDARD published on 1.4.2022
Designation standards: ČSN EN IEC 63287-1
Classification mark: 358777
Catalog number: 514694
Publication date standards: 1.4.2022
The number of pages: 56
Approximate weight : 168 g (0.37 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma poskytuje směrnice pro kvalifikační plány spolehlivosti výrobků polovodičových integrovaných obvodů. Tento dokument není určen pro vojenské a kosmické aplikace. POZNÁMKA 1 - Výrobce může používat flexibilní rozsahy výběru vzorku, aby snížil náklady a udržel přiměřenou spolehlivost a to za pomoci adaptace této směrnice, která je založena na EDR-4708, AEC Q100, JESD47 nebo jiném relevantním dokumentu, pokud je specifikován. POZNÁMKA 2 - Weibullova distribuční metoda použitá v tomto dokumentu je jednou z několika metod pro výpočet vhodného rozsahu výběru vzorku a zkušebních podmínek pro daný projekt spolehlivosti