Semiconductor devices. Integral circuits. Part 11: Section 1: Internal visual examination for semiconductor integrated circuits excluding hybrid circuits
STANDARD published on 1.10.1996
Designation standards: ČSN IEC 748-11-1
Classification mark: 358798
Catalog number: 20040
Publication date standards: 1.10.1996
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Účelem těchto zkoušek je prověřit, zda použité vnitřní materiály, konstrukce a zpracování integrovaných obvodů odpovídají požadavkům příslušné specifikace. Tyto zkoušky se normálně provádějí před tím než se integrované obvody opatří krytem nebo před zapouzdřením, jako 100% kontrola ke zjištění a vyřazení součástek s vnitřními vadami, které mohou vést k poruše součástek při běžném použití. Mohou se také provádět jako výběrová kontrola před zapouzdřením, ke zjištění účinnosti řízení jakosti výrobce a manipulačních postupů pro polovodičové součástky.