
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 43: Guidelines for IC reliability qualification plans.
STANDARD published on 1.5.2018
Designation standards: DIN EN 60749-43:2018-05
Note: WITHDRAWN
Publication date standards: 1.5.2018
The number of pages: 40
Approximate weight : 120 g (0.26 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 43: Leitfaden Pläne zur Zuverlässigkeitsqualifikation von integrierten Schaltungen.