
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 9: Permanence of marking.
STANDARD published on 1.11.2017
Designation standards: DIN EN 60749-9:2017-11
Publication date standards: 1.11.2017
The number of pages: 10
Approximate weight : 30 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 9: Beständigkeit der Kennzeichnung.