Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 33: Accelerated moisture resistance - Unbiased autoclave.
STANDARD published on 1.9.2004
Designation standards: DIN EN 60749-33:2004-09
Publication date standards: 1.9.2004
The number of pages: 10
Approximate weight : 30 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 33: Beschleunigte Verfahren für Feuchtebeständigkeit - Autoclave ohne elektrische Beanspruchung.