Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 22: Electromechanical tensile test method for conductive thin films on flexible substrates.
STANDARD published on 1.4.2015
Designation standards: DIN EN 62047-22:2015-04
Publication date standards: 1.4.2015
The number of pages: 11
Approximate weight : 33 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN
Halbleiterbauelemente - Bauelemente der Mikrosystemtechnik - Teil 22: Elektromechanisches Zug-Prüfverfahren für leitfähige Dünnschichten auf flexiblen Substraten.