DIN EN IEC 60749-41:2023-03

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices.

STANDARD published on 1.3.2023

German -
PDF - Immediate download (129.20 USD)

German -

Print design (165.40 USD)

The information about the standard:

Designation standards: DIN EN IEC 60749-41:2023-03
Publication date standards: 1.3.2023
The number of pages: 26
Approximate weight : 78 g (0.17 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN

Annotation of standard text DIN EN IEC 60749-41:2023-03 :

Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 41: Standardisierte Prüfverfahren für die Zuverlässigkeit von nichtflüchtigen Speicher-Bauelementen.