
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 16: Particle impact noise detection (PIND) test.
STANDARD published on 1.5.2002
Designation standards: E DIN EN 60749-16:2002-05
Note: WITHDRAWN
Publication date standards: 1.5.2002
The number of pages: 9
Approximate weight : 27 g (0.06 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 16: Nachweisprüfung für das Teilchenaufprallgeräusch (PIND-Prüfung).