
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 24: Accelerated moisture resistance; Unbiased HAST.
STANDARD published on 1.11.2002
Designation standards: E DIN IEC 60749-24:2002-11
Note: WITHDRAWN
Publication date standards: 1.11.2002
The number of pages: 10
Approximate weight : 30 g (0.07 lbs)
Country: German technical standard
Category: Technical standards DIN
Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 24: Beschleunigte Feuchtebeständigkeit; Hochbeschleunigende Wirkung (HAST) ohne elektrische Beanspruchung.