IEC 60747-14-4-ed.1.0

Annotation of standard text IEC 60747-14-4-ed.1.0 :

IEC 60747-14-4:2011 applies to semiconductor accelerometers for all types of products. This standard applies not only to typical semiconductor accelerometers with built-in electric circuits, but also to semiconductor accelerometers accompanied by external circuits. This standard does not (or should not) violate (or interfere with) the agreement between customers and suppliers in terms of a new model or parameters for business. NOTE 1: This standard, although directed toward semiconductor accelerometers, may be applied in whole or in part to any mass produced type of accelerometer. NOTE 2: The purpose of this standard is to allow for a systematic description, which covers the subjects initiated by the advent of semiconductor accelerometers. The tasks imposed on the semiconductor accelerometers are not only common to all accelerometers but also inherent to them and not yet totally solved. The descriptions are based on latest research results. One typical example is the multi-axis accelerometer. This standard states the method of measuring acceleration as a vector quantity using multi-axis accelerometers. NOTE 3: This standard does not conflict in any way with any existing parts of either ISO 16063 or ISO 5347. This standard intends to provide the concepts and the procedures of calibration of the semiconductor multi-axis accelerometers which are used not only for the measurement of acceleration but also for the control of motion in the wide frequencies ranging from DC. This publication is to be read in conjunction with IEC 60747-1:2006. La CEI 60747-14-4:2011 sapplique aux accelerometres a semiconducteurs pour tous les types de produits. La presente norme sapplique non seulement aux accelerometres a semiconducteurs types a circuits electriques integres, mais aussi aux accelerometres a semiconducteurs qui possedent des circuits externes. La presente norme ne viole pas (ou ne devrait pas entraver) (ou nentre pas en contradiction avec) laccord entre client et fournisseur pour un nouveau modele ou de nouveaux parametres commerciaux. NOTE 1: Bien quelle concerne les accelerometres a semiconducteurs, la presente norme peut etre appliquee completement ou partiellement a tout type daccelerometre produit en masse. NOTE 2: Lobjet de la presente norme est de permettre une description systematique, qui couvre les sujets inities par lapparition des accelerometres a semiconducteurs. Les taches imposees sur les accelerometres a semiconducteurs non seulement sont communes a tous les accelerometres mais aussi leur sont inherentes et ne sont pas encore completement resolues. Les descriptions sont fondees sur les resultats de recherche les plus recents. Un exemple type est celui de laccelerometre a axes multiples. La presente norme enonce la methode de mesure de lacceleration comme une grandeur vectorielle utilisant des accelerometres a axes multiples. NOTE 3: La presente norme nest pas du tout en contradiction avec les parties existantes de lISO 16063 ou de lISO 5347. La presente norme est destinee a fournir des concepts et des procedures detalonnage des accelerometres a semiconducteurs a axes multiples qui sont utilises non seulement pour la mesure de lacceleration mais aussi pour le controle du mouvement dans les frequences larges depuis les valeurs en courant continu. Cette publication doit etre lue conjointement avec la CEI 60747-1:2006.