Measurement of the complex permittivity for low-loss dielectric substrates balanced-type circular disk resonator method (( IEC 63185:2025) EN IEC 63185:2025) (german version)
STANDARD published on 1.9.2026
Designation standards: ÖVE EN IEC 63185
Publication date standards: 1.9.2026
The number of pages: 16
Approximate weight : 48 g (0.11 lbs)
Country: Austrian technische Norm
Category: Technical standards ÖNORM
Dieses Dokument bezieht sich auf ein Messverfahren für die komplexe Permittivität von dielektrischen Substraten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen. Dieses Verfahren wurde entwickelt, um die dielektrischen Eigenschaften verlustarmer Werkstoffe zu bewerten, die in Mikrowellen- und Millimeterwellenschaltungen und -geräten verwendet werden. Es verwendet Moden höherer Ordnung eines symmetrischen Kreisscheibenresonators und ermöglicht die breitbandige Vermessung dielektrischer Substrate mit Hilfe eines einzigen Resonators, wobei die Wirkung von Anregungsöffnungen und Randfeldern auf der Grundlage der Modenanpassungsanalyse (en: mode-matching analysis) akkurat berücksichtigt wird.