VDE 0687-512-1-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-100: General - Applicable publications.
(VDE 0687-512-1-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-100: Allgemeines - Zutreffende Publikationen.)

WITHDRAWN published on 1.5.2010

VDE 0687-512-1-101. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1-101: Blank detail specification.
(VDE 0687-512-1-101. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 1-101: Vordruck für Bauartspezifikation.)

WITHDRAWN published on 1.10.2012

VDE 0687-512-1. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 1: General.
(VDE 0687-512-1. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Prüfungen und Messungen - Teil 1: Allgemeines.)

WITHDRAWN published on 1.11.2016

VDE 0687-512-15-2. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 15-2: Connector tests (mechanical) - Test 15b: Insert retention in housing (axial).
(VDE 0687-512-15-2. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 15-2: Mechanische Prüfungen an Steckverbindern - Prüfung 15b: Haltekraft des Einsatzes im Gehäuse (axial).)

WITHDRAWN published on 1.3.2016

VDE 0687-512-16-21. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 16-21: Test 16u: Whisker test via the application of external mechanical stresses.
(VDE 0687-512-16-21. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Prüfungen und Messungen - Teil 16-21: Prüfung 16u: Whisker-Prüfung unter Anwendung äußerer mechanischer Beanspruchungen.)

WITHDRAWN published on 1.1.2010

VDE 0687-512-23-3. Electromechanical components for electronic equipment - Basic testing procedures and measuring methods - Part 23-3: Test 23c: Shielding effectiveness of connectors and accessories.
(VDE 0687-512-23-3. Elektrisch-mechanische Bauelemente für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 23-3: Prüfung 23c: Schirmwirkung von Steckverbindern und Zubehör.)

WITHDRAWN published on 1.7.2017

VDE 0687-512-26-100/A1. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 26-100: Measurement setup, test and reference arrangements and measurements for connectors according to IEC 60603-7 - Tests 26a to 26g.
(VDE 0687-512-26-100/A1. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 26-100: Messaufbau, Prüf- und Referenzanordnung und Messverfahren für Steckverbinder nach IEC 60603-7 - Prüfungen 26a bis 26g.)

WITHDRAWN published on 1.5.2010

VDE 0687-512-27-200. Connectors for electrical and electronic equipment - Tests and measurements - Part 27-200: Additional specifications for signal integrity tests up to 2 000 MHz on IEC 60603-7 series connectors - Tests 27a to 27g.
(VDE 0687-512-27-200. Steckverbinder für elektrische und elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 27-200: Zusätzliche Festlegungen für Signalintegritätsprüfungen bis 2 000 MHz bei Steckverbindern der Reihe IEC 60603-7 - Prüfungen 27a bis 27g.)

WITHDRAWN published on 1.3.2020

VDE 0687-512-28-100. Connectors for electrical equipment - Tests and measurements - Part 28-100: Signal integrity tests up to 1000 MHz on 60603-7 and 61076-3 series connectors - Tests 28a to 28g.
(VDE 0687-512-28-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 28-100: Signalintegritätsprüfungen bis 1000 MHz an Steckverbindern nach IEC 60603-7 und IEC 61076-3 - Prüfungen 28a bis 28g.)

WITHDRAWN published on 1.9.2010

VDE 0687-512-28-100. Connectors for electronic equipment - Tests and measurements - Part 28-100: Signal integrity tests up to 1 000 MHz on IEC 60603-7 and IEC 61076-3 series connectors - Tests 28a to 28g.
(VDE 0687-512-28-100. Steckverbinder für elektronische Einrichtungen - Mess- und Prüfverfahren - Teil 28-100: Signalintegritätsprüfungen bis 1 000 MHz an Steckverbindern der Reihen IEC 60603-7 und IEC 61076-3 - Prüfungen 28a bis 28g.)

WITHDRAWN published on 1.9.2013