VDE 0884-5/A1. Semiconductor devices - Discrete devices - Part 5-5: Optoelectronic devices - Photocouplers.
(VDE 0884-5/A1. Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente - Teil 5-5: Optoelektronische Bauelemente - Optokoppler.)

WITHDRAWN published on 1.12.2011

VDE 0884. Semiconductor devices - Discrete devices and integrated circuits - Part 5: Optoelectronic devices.
(VDE 0884. Halbleiterbauelemente - Einzel-Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltungen - Teil 5: Optoelektronische Bauelemente.)

WITHDRAWN published on 1.10.1996

VDE 0884-749-17. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation.
(VDE 0884-749-17. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 17: Neutronenbestrahlung.)

WITHDRAWN published on 1.7.2018

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(VDE 0884-749-26. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM).)

WITHDRAWN published on 1.9.2014

VDE 0884-749-26. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 26: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Human body model (HBM).
(VDE 0884-749-26. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Human Body Model (HBM).)

WITHDRAWN published on 1.7.2017

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

WITHDRAWN published on 1.2.2018

VDE 0884-749-28. Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 28: Electrostatic discharge (ESD) sensitivity testing - Charged device model (CDM) - device level.
(VDE 0884-749-28. Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 28: Prüfung der Empfindlichkeit gegen elektrostatische Entladungen (ESD) - Charged Device Model (CDM) - Device Level.)

WITHDRAWN published on 1.5.2024

VDE 0482-754-1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
(VDE 0482-754-1. Prüfung der bei der Verbrennung der Werkstoffe von Kabeln und isolierten Leitungen entstehenden Gase - Teil 1: Bestimmung des Gehaltes an Halogenwasserstoffsäure.)

WITHDRAWN published on 1.2.2015

VDE 0482-754-1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
(VDE 0482-754-1. Prüfung der bei der Verbrennung der Werkstoffe von Kabeln und isolierten Leitungen entstehenden Gase - Teil 1: Bestimmung des Gehaltes an Halogenwasserstoffsäure.)

WITHDRAWN published on 1.8.2015

VDE 0482-754-1/A1. Test on gases evolved during combustion of materials from cables - Part 1: Determination of the halogen acid gas content.
(VDE 0482-754-1/A1. Prüfung der bei der Verbrennung der Werkstoffe von Kabeln und isolierten Leitungen entstehenden Gase - Teil 1: Bestimmung des Gehaltes an Halogenwasserstoffsäure.)

WITHDRAWN published on 1.2.2019