VDE 0884-3550-1. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 1: Evaluation method of basic characteristics in memristor devices.
(VDE 0884-3550-1. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 1: Bewertungsverfahren für grundlegende Eigenschaften in Memristor-Bauelementen.)

Standard published on 1.5.2026

VDE 0884-3550-2. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 2: Evaluation method of linearity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-2. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 2: Bewertungsmethode für die Linearität in Memristor-Bauelementen.)

Standard published on 1.5.2026

VDE 0884-3550-3. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 3: Evaluation method of spike dependent plasticity in memristor devices.
(VDE 0884-3550-3. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 3: Bewertungsmethode für spikeabhängige Plastizität in Memristor-Bauelementen.)

Standard published on 1.5.2026

VDE 0884-3550-4. Semiconductor devices - Neuromorphic devices - Part 4: Evaluation method of asymmetry in memristor devices.
(VDE 0884-3550-4. Halbleiterbauelemente - Neuromorphe Bauelemente - Teil 4: Bewertungsmethode für Asymmetrien in Memristor-Bauelementen.)

Standard published on 1.5.2026

VDE 0601-3552. Switching device for islanding (SDFI).
(VDE 0601-3552. Schaltgeräte für Inselbetrieb (SDFI).)

Standard published on 1.1.2026

VDE 0715-20. LED lamps - Safety requirements.
(VDE 0715-20. LED Lampen - Sicherheitsanforderungen.)

Standard published on 1.6.2025

VDE 0370-3585. Interpretation of Dissolved Gas Analysis in natural and synthetic esters.
(VDE 0370-3585. Auswertung der Analyse gelöster Gase in natürlichen und synthetischen Estern.)

Standard published on 1.9.2026

VDE 0412-42-1. Linear accelerator - Electron linear accelerator for radiation processing - Part 1: General requirement and testing method.
(VDE 0412-42-1. Linearbeschleuniger - Elektronen-Linearbeschleuniger für die Strahlenbehandlung - Teil 1: Allgemeine Anforderungen und Prüfverfahren.)

Standard published on 1.12.2025

VDE 0887-969-73. Measurement of the conductivity for metal thin films at microwave and millimeter-wave frequencies - Balanced-type circular disk resonator method.
(VDE 0887-969-73. Messung der Leitfähigkeit von Metalldünnschichten bei Mikrowellen- und Millimeterwellenfrequenzen nach dem symmetrischen Kreisscheibenresonatorverfahren.)

Standard published on 1.7.2026

VDE 0490-620. Tracking systems for radioactive materials - Specific requirement of electronic tagging system.
(VDE 0490-620. Rückverfolgungssysteme für radioaktive Stoffe - Besondere Anforderungen für elektronische Rückverfolgungssysteme.)

Standard published on 1.5.2026