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CISPR 17-ed.2.0
Methods of measurement of the suppression characteristics of passive EMC filtering devices
STANDARD published on 10.6.2011
The information about the standard:
Designation standards: CISPR 17-ed.2.0
Publication date standards: 10.6.2011
SKU: NS-116266
The number of pages: 132
Approximate weight : 427 g (0.94 lbs)
Country: International technical standard
Category: Technical standards CISPR
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Annotation of standard text CISPR 17-ed.2.0 :
CISPR 17:2011 specifies methods to measure the radio interference suppression characteristics of passive EMC filtering devices used in power and signal lines, and in other circuits. The defined methods may also be applied to combinations of over-voltage protection devices and EMC filtering devices. The measurement method covers the frequency range from 9 kHz to several GHz depending on the device and test circuit. The standard describes procedures for laboratory tests (type tests) as well as factory tests. The suppression characteristics of EMC filters and components used for the suppression of EM disturbances, are a function of numerous variables such as impedance of the circuits to which they connect, operating voltage and current, and ambient temperature. This standard specifies uniform test methods that will enable comparison of filtering and suppression characteristics determined by test laboratories or specified by manufacturers. Measurement procedures are provided for unbiased and bias conditions. Measurements under bias conditions are performed to determine potential non-linear behaviour of the EMC filtering devices such as saturation effects in inductors with magnetic cores. This testing serves to show the usability in a specific application (such as frequency converters that produce high amplitudes of common mode pulse current and thus may drive inductors into saturation). Measurement under bias conditions may be omitted if the non-linear behaviour can be determined by other methods (e.g. separate saturation measurement of the inductors used). The first edition of CISPR 17 (1981) prescribed the measurement methods of insertion loss mainly for power-line filters. Today, however, many types of sophisticated EMC filters and suppression components can be found in various electronic devices. Those filters need to be characterized using standardized measurement methods. New methods for measurement of impedance and S-parameters for such EMI devices are included in this second edition. La CISPR 17:2011 specifie les methodes de mesure des caracteristiques dantiparasitage des perturbations radioelectriques des dispositifs de filtrage CEM passifs utilises dans les lignes electriques et de transmission de signaux et dans dautres circuits. Les methodes definies peuvent egalement sappliquer aux combinaisons de dispositifs de protection contre les surtensions et les dispositifs de filtrage CEM. La methode de mesure decrite couvre la gamme de frequences comprise entre 9 kHz et plusieurs GHz, en fonction du dispositif et du circuit dessai. La norme decrit des methodes applicables aux essais en laboratoire (essais de type) et aux essais en usine. Des methodes dessai avec et sans conditions de polarisation sont definies. Les caracteristiques dantiparasitage des filtres et elements CEM utilises pour la reduction des perturbations CEM sont fonction de nombreuses variables telles que limpedance des circuits auxquels elles sont associees, la tension et le courant dutilisation et la temperature ambiante. La presente norme specifie des methodes dessai uniformes qui permettent de comparer les caracteristiques de filtrage et dantiparasitage determinees par les laboratoires dessai ou precisees par les constructeurs. Des methodes de mesure sont fournies pour des conditions avec et sans polarisation. Les mesures effectuees dans des conditions de polarisation permettent de determiner le comportement non lineaire potentiel des dispositifs de filtrage CEM, comme les effets de saturation exerces sur les inductances a noyaux magnetiques. Ces essais permettent de montrer la facilite demploi dans une application specifique (telle que dans les cas de convertisseurs de frequence qui produisent de grandes amplitudes de courant de choc de mode commun, et peuvent ainsi entrainer la saturation des inductances). Il nest pas necessaire deffectuer des mesures dans des conditions de polarisation si le comportement non lineaire peut etre determine par dautres methodes (par exemple, mesure separee de la saturation des inductances utilisees). La premiere edition du document CISPR 17 (1981) specifiait les methodes de mesure de laffaiblissement dinsertion principalement pour les filtres reseau. Aujourdhui, divers dispositifs electroniques comportent toutefois de nombreux types de filtres et delements dantiparasitage CEM complexes. Ces filtres doivent etre caracterises au moyen de methodes de mesure normalisees. Cette seconde edition comporte les nouvelles methodes de mesure de limpedance et des parametres S pour ce type de dispositifs EMI.
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