ČSN EN 60749-14 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 14: Robustness of terminations (lead integrity)

STANDARD published on 1.6.2004

Language
Format	Print design - 16.90 USD
Availability	IN STOCK
Price	16.90 USD excl. VAT
16.90 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-14
Classification mark: 358799
Catalog number: 70531
Publication date standards: 1.6.2004
SKU: NS-158203
The number of pages: 36
Approximate weight : 108 g (0.24 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Send to a colleague

Query

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN 60749-14 (358799):

Tato část IEC 60749 stanovuje různé zkoušky k určování neporušenosti mezi rozhraním přívod/pouzdro a samotným přívodem, když se přívod(y) ohnou v důsledku špatné montáže desky, ke které dochází přepracováním části pro opětovnou montáž. U hermeticky uzavřených pouzder se doporučuje, aby po této zkoušce následovaly zkoušky hermetičnosti v souladu s IEC 60749-8 k určení, zda nedošlo k jakýmkoliv škodlivým účinkům při namáháních působících jak na utěsnění, tak na přívody.

Tato zkouška včetně všech zkušebních podmínek je považována za destruktivní a lze ji použít jenom pro kvalifikační zkoušení. Tato norma je použitelná pro všechny součástky montované přes otvor a součástky pro povrchovou montáž, vyžadující tvarování přívodů uživatelem