Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN 60749-25 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 25: Temperature cycling
STANDARD published on 1.6.2004
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN 60749-25
Classification mark: 358799
Catalog number: 70530
Publication date standards: 1.6.2004
SKU: NS-158222
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN 60749-25 (358799):
Tato část IEC 60749 stanovuje zkušební postup k určování způsobilosti polovodičových součástek a součástí a/nebo montážních desek vydržet mechanické namáhání způsobené střídáním vysokých a nízkých teplotních extrémů. Trvalé změny elektrických a/nebo fyzikálních parametrů mohou být důsledkem těchto mechanických namáhání. Tato zkušební metoda je obecně v souladu s IEC 60068-2-14, ale vzhledem ke specifickým požadavkům polovodičů, platí články této normy. Tato zkušební metoda platí pro jedno, dvou a tříkomorové teplotní cykly a zahrnuje zkoušení součástí a pájecích spojů. Při jednokomorovém cyklu je dávka umístěna ve stabilní komoře a je zahřívána nebo ochlazována přiváděním horkého, okolního nebo studeného vzduchu do komory. Při dvoukomorovém cyklu je dávka umístěna na pohyblivé desce samovolně se pohybující mezi stabilními komorami, které jsou udržovány na stálých teplotách. Při tříkomorovém teplotním cyklu se dávka pohybuje mezi třemi komorami.
Similar standards:
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
WITHDRAWN
1.1.2000
We recommend:
Technical standards updating
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
