Standard ČSN EN 60749-35 1.5.2007 preview

ČSN EN 60749-35 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 35: Acoustic microscopy for plastic encapsulated electronic components



STANDARD published on 1.5.2007


Language
Format
AvailabilityIN STOCK
Price23.20 USD excl. VAT
23.20 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-35
Classification mark: 358799
Catalog number: 78450
Publication date standards: 1.5.2007
SKU: NS-158240
The number of pages: 48
Approximate weight : 144 g (0.32 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN 60749-35 (358799):

Tato část souboru norem IEC 60749 popisuje postupy pro provádění akustické mikroskopie na elektronických součástkách zapouzdřených do plastu. Poskytuje návod na používání akustické mikroskopie pro detekci anomálií (delaminace, praskliny, dutiny v zalévací hmotě atp.). Metoda je reprodukovatelná, nedestruktivní. Přejímaná EN 60749-35 představuje 2 strany anglického textu a 43 stran anglického a francouzského textu normy IEC

We recommend:

Technical standards updating

Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.

Would you like to know more? Look at this page.




Cookies Cookies

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.

You can refuse consent here.

Here you can customize your cookie settings according to your preferences.

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things.