ČSN EN 60749-42 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage

Automatically translated name:

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42 : Temperature and humidity storage. ( In English , the text is part of a copy ).

STANDARD published on 1.4.2015

Language
Format	Print design - 10.80 USD
Availability	IN STOCK
Price	10.80 USD excl. VAT
10.80 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 60749-42
Classification mark: 358799
Catalog number: 97100
Publication date standards: 1.4.2015
SKU: NS-583589
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Send to a colleague

Query

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN 60749-42 (358799):

Tato norma určuje zkušební metodu na vyhodnocení odolnosti polovodičových součástek, které se provozují v prostředí vysoké teploty a vysoké vlhkosti.

Tato zkušební metoda se používá na vyhodnocení odolnosti proti korozi kovových připojení na čipech polovodi-čových součástek, které se nachází v plastových a jiných pouzdrech. Používá se také jako prostředek vyhodno-cení zrychleného pronikání vlhkosti přes pasivační vrstvu a jako přípravná fáze pro různé druhy zkoušek