Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN 60749-6-ed.2 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
Translate name
STANDARD published on 1.10.2017
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN 60749-6-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 503480
Publication date standards: 1.10.2017
SKU: NS-796758
The number of pages: 16
Approximate weight : 48 g (0.11 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN 60749-6-ed.2 (358799):
Účelem této normy je zkoušet a určit vliv skladování při zvýšené teplotě na všechny elektronické součástky bez použití elektrického namáhání. Tato zkouška se obvykle používá k určení vlivu času a teploty v podmínkách skladování, na tepelně aktivované metody poruch a určení času do poruchy elektronických součástek, včetně energeticky nezávislých paměťových zařízení (mechanismy selhání dat). Tato zkouška je považována za nedestruktivní, ale měla by být raději používána pro kvalifikaci součástek. Jestliže jsou takové součástky používány pro dodávku, bude třeba účinky této zkoušky velmi zrychleným namáháním vyhodnotit.
Tepelně aktivované metody poruch jsou modelovány pomocí Arrheniusovi rovnice. Návod pro výběr zkušebních teplot a dob trvání lze nalézt v IEC 60749-43
Preview of the standard ČSN EN 60749-6-ed.2 (358799)
We recommend:
Updating of laws
Do you want to be sure about the validity of used regulations?
We offer you a solution so that you could use valid and updated legislative regulations.
Would you like to get more information? Look at this page.
