ČSN EN 62047-18 (358775)

Semiconductor devices - Micro-electromechanical devices - Part 18: Bend testing methods of thin film materials

STANDARD published on 1.4.2014

Language
Format	Print design - 16.30 USD
Availability	IN STOCK
Price	16.30 USD excl. VAT
16.30 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 62047-18
Classification mark: 358775
Catalog number: 95059
Publication date standards: 1.4.2014
SKU: NS-161582
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

Send to a colleague

Query

The category - similar standards:

Other semiconductor devices

Annotation of standard text ČSN EN 62047-18 (358775):

Tato norma stanovuje metody pro zkoušení ohybu tenkovrstvých materiálů s délkou a šířkou méně jak 1 mm a tloušťkou mezi 0,1 _m až 10 _m. Tyto tenkovrstvé prvky jsou používány jako hlavní konstrukční materiály pro mikroelektromechanické systémy (v tomto dokumentu MEMS) a mikrostroje.

Hlavní konstrukční materiály pro MEMS, mikrostroje aj. mají speciální vlastnosti, jako jsou velikost několik mikrometrů, jsou vyráběny nanášením, fotolitografií a/nebo nemechanickým obráběním. Tato norma definuje zkoušku ohybem a zkoušku tvaru pro jemné mikročásticové zkušební vzorky tvaru nosníku, které umožňují zajistit přesnost, která je vyžadována ve speciálních případech