ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 17: Neutron irradiation

Translate name

STANDARD published on 1.11.2019


Language
Format
AvailabilityIN STOCK
Price9.50 USD excl. VAT
9.50 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN IEC 60749-17-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 508691
Publication date standards: 1.11.2019
SKU: NS-974220
The number of pages: 16
Approximate weight : 48 g (0.11 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-17-ed.2 (358799):

Zkouška neutronovým zářením se provádí, aby se určila citlivost polovodičových součástek na degradaci vlivem neionizující ztráty energie (NIEL). Zkouška, která je zde popisována, je vhodná pro integrované obvody a diskrétní polovodičové součástky. Je určena pro vojenské a kosmické účely. Je to destruktivní zkouška. Cíle zkoušky jsou tyto: a) zjistit a změřit degradaci kritických parametrů polovodičové součástky, jako funkci působení proudu neutronů, a b) určit, jestli stanovené parametry polovodičové součástky jsou ve stanovených mezích po vystavení účinku proudu neutronů stanovené úrovně (viz kapitola 6)

We recommend:

Technical standards updating

Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.

Would you like to know more? Look at this page.




Cookies Cookies

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.

You can refuse consent here.

Here you can customize your cookie settings according to your preferences.

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things.