Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN IEC 60749-18-ed.2 (358799)
Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 18: Ionizing radiation (total dose)
Translate name
STANDARD published on 1.12.2019
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN IEC 60749-18-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 509091
Publication date standards: 1.12.2019
SKU: NS-976999
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
The category - similar standards:
Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-18-ed.2 (358799):
Tato norma stanoví zkušební postup na definování požadavků pro zkoušení zapouzdřených polovodičových integrovaných obvodů a diskrétních polovodičových součástek na účinky ionizujícího záření (celkovou dávkou) ze zdroje gama paprsku kobaltu-60 (60Co). Mohou se použít i jiné vhodné zdroje záření.
Uvádí čtyři zkoušky, které jsou uvedeny v tomto postupu:
- a) standardní zkouška ozářením při pokojové teplotě;
- b) zkouška ozářením při zvýšené/kryogenní teplotě;
- c) zrychlená zkoušku žíháním;
- d) rozšířená citlivostní zkouška při nízké intenzitě dávky (ELDRS).
Norma je určena pouze pro ustálená záření a nelze ji použít pro pulsní typy záření. Je určena pro vojenské a kosmické účely.
Zkoušky podle této normy mohou vytvářet závažné degradace elektrických vlastností ozařovaných součástek, proto jsou tyto zkoušky považovány za destruktivní
