ČSN EN IEC 60749-23-ed.2 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 23: High temperature operating life

Translate name

STANDARD published on 1.8.2026


Language
Format
AvailabilityIN STOCK
Price10.70 USD excl. VAT
10.70 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN IEC 60749-23-ed.2
Classification mark: 358799
Catalog number: 524316
Publication date standards: 1.8.2026
SKU: NS-1278464
The number of pages: 20
Approximate weight : 60 g (0.13 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-23-ed.2 (358799):

Tato norma stanoví zkoušku, která se používá k určení vlivů podmínek předpětí a teploty na polovodičové součástky v čase. Zkouška simuluje pracovní podmínky součástky zrychleným způsobem a přednostně se používá pro kvalifikaci součástek a monitorování spolehlivosti. Forma předpětí při vyšší teplotě, které má krátké trvání, je obecně známá jako "zahořování" a může být použita k vytřídění poruch, které se vztahují k předčasné nefunkčnosti. Podrobné využití a aplikace zahořování je mimo předmět této normy

We recommend:

Technical standards updating

Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.

Would you like to know more? Look at this page.




Cookies Cookies

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.

You can refuse consent here.

Here you can customize your cookie settings according to your preferences.

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things.