ČSN EN IEC 60749-7-ed.3 (358799)

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 7: Internal moisture content measurement and the analysis of other residual gases

Translate name

STANDARD published on 1.6.2026


Language
Format
AvailabilityIN STOCK
Price16.00 USD excl. VAT
16.00 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN IEC 60749-7-ed.3
Classification mark: 358799
Catalog number: 524044
Publication date standards: 1.6.2026
SKU: NS-1271236
The number of pages: 24
Approximate weight : 72 g (0.16 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

The category - similar standards:

Semiconductor devices in general

Annotation of standard text ČSN EN IEC 60749-7-ed.3 (358799):

Tato norma definuje zkoušení a měření obsahu vodní páry a dalších plynů uvnitř kovové, nebo keramické hermeticky uzavřené součástky. Zkouška se používá na měření kvality pouzdření a poskytuje informaci o dlouhodobé chemické stabilitě atmosféry uvnitř pouzdra. Je použitelná pro takto pouzdřené polovodičové součástky, ale používá se převážně pro aplikace, kde se požaduje vysoká spolehlivost jako je vojenská technika, nebo letectví. Tato zkouška je destruktivní

We recommend:

Technical standards updating

Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.

Would you like to know more? Look at this page.




Cookies Cookies

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.

You can refuse consent here.

Here you can customize your cookie settings according to your preferences.

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things.