Cookies
We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
ČSN EN IEC 61000-4-20-ed.3 (333432)
Electromagnetic compatibility (EMC) - Part 4-20: Testing and measurement techniques - Emission and immunity testing in transverse electromagnetic (TEM) waveguides
Translate name
STANDARD published on 1.11.2022
The information about the standard:
Designation standards: ČSN EN IEC 61000-4-20-ed.3
Classification mark: 333432
Catalog number: 514946
Publication date standards: 1.11.2022
SKU: NS-1088319
The number of pages: 124
Approximate weight : 403 g (0.89 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Annotation of standard text ČSN EN IEC 61000-4-20-ed.3 (333432):
Tato část normy IEC 61000 se zaměřuje na metody zkoušení emise a odolnosti elektrických a elektronických zařízení využívajících různé typy příčných elektromagnetických (TEM) vlnovodů. Tyto typy zahrnují otevřené struktury (například páskové vedení a simulátory elektromagnetických pulsů) a uzavřené struktury (například TEM buňky). Tyto struktury lze dále klasifikovat jako jednoportové, dvouportové nebo víceportové TEM vlnovody. Kmitočtový rozsah závisí na konkrétních požadavcích na zkoušení a na konkrétním typu TEM vlnovodu. Předmětem tohoto dokumentu je popsat - vlastnosti TEM vlnovodů, včetně typických kmitočtových rozsahů a omezení velikosti zkoušeného zařízení (EUT); - metody validace TEM vlnovodů pro zkoušky elektromagnetické kompatibility (EMC); - definice EUT (tj. skříně a kabeláže EUT); - zkušební sestavy, postupy a požadavky na měření vyzařovaných emisí ve vlnovodech TEM a - zkušební sestavy, postupy a požadavky na zkoušky odolnosti proti vyzařovaným emisím ve vlnovodech TEM
Preview of the standard ČSN EN IEC 61000-4-20-ed.3 (333432)
We recommend:
Technical standards updating
Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.
Would you like to know more? Look at this page.
