We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.
Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)
STANDARD published on 1.3.2007
Designation standards: ČSN EN 62373
Classification mark: 358767
Catalog number: 78056
Publication date standards: 1.3.2007
SKU: NS-162085
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN
Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou.
Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí.
Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.
WITHDRAWN
1.7.1998
WITHDRAWN
1.12.1997
1.12.2010
1.12.2010
Latest update: 2025-10-15 (Number of items: 2 238 420)
© Copyright 2025 NORMSERVIS s.r.o.