Standard ČSN EN 62373 1.3.2007 preview

ČSN EN 62373 (358767)

Bias-temperature stability test for metal-oxide, semiconductor, field-effect transistors (MOSFET)



STANDARD published on 1.3.2007


Language
Format
AvailabilityIN STOCK
Price14.80 USD excl. VAT
14.80 USD

The information about the standard:

Designation standards: ČSN EN 62373
Classification mark: 358767
Catalog number: 78056
Publication date standards: 1.3.2007
SKU: NS-162085
The number of pages: 32
Approximate weight : 96 g (0.21 lbs)
Country: Czech technical standard
Category: Technical standards ČSN

The category - similar standards:

Transistors

Annotation of standard text ČSN EN 62373 (358767):

Tato norma uvádí zkušební postupy pro zkoušení stability tranzistorů řízených polem (MOSFET) při kombinovaném namáhání napětím a teplotou. Při dlouhodobém namáhání zvýšenou teplotou a napětím G-S dochází k degradaci MOSFET, klesá saturační proud a vzrůstá absolutní hodnota prahového napětí. Zaváděná IEC 62373 představuje celkem 27 stran anglického a francouzského textu.

We recommend:

Technical standards updating

Do you want to make sure you use only the valid technical standards?
We can offer you a solution which will provide you a monthly overview concerning the updating of standards which you use.

Would you like to know more? Look at this page.




Cookies Cookies

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things. Click "OK" to give your consent.

You can refuse consent here.

Here you can customize your cookie settings according to your preferences.

We need your consent to use the individual data so that you can see information about your interests, among other things.