Standards IEC - International electro-technical commission - Page 398

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 39: Mesure de la diffusivite d´humidite et de l´hydrosolubilite dans les materiaux organiques utilises dans les composants a semiconducteurs)

Standard published on 29.11.2021

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 39: Measurement of moisture diffusivity and water solubility in organic materials used for semiconductor components

Standard published on 29.11.2021

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 4: Damp heat, steady state, highly accelerated stress test (HAST)
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 4: Essai continu fortement accelere de contrainte de chaleur humide (HAST))

Standard published on 3.3.2017

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 40: Board level drop test method using a strain gauge
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais climatiques et mecaniques - Partie 40: Methode d´essai de chute au niveau de la carte avec utilisation d´une jauge de contrainte)

Standard published on 13.7.2011

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 41: Standard reliability testing methods of non-volatile memory devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 41: Methodes d’essai normalisees pour la fiabilite des dispositifs a memoire non volatile)

Standard published on 22.7.2020

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 42: Temperature and humidity storage
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 42: Stockage de temperature et d´humidite)

Standard published on 12.8.2014

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 44: Neutron beam irradiated single event effect (SEE) test method for semiconductor devices
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 44: Methode d´essai des effets d´un evenement isole (SEE) irradie par un faisceau de neutrons pour des dispositifs a semiconducteurs)

Standard published on 21.7.2016

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 5: Essai continu de duree de vie sous temperature et humidite avec polarisation)

Standard published on 19.12.2023

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 5: Steady-state temperature humidity bias life test

Standard published on 19.12.2023

Semiconductor devices - Mechanical and climatic test methods - Part 6: Storage at high temperature
(Dispositifs a semiconducteurs - Methodes d´essais mecaniques et climatiques - Partie 6: Stockage a haute temperature)

Standard published on 3.3.2017